近日，天津见合八方正式推出O波段可调光源整体解决方案。该方案基于公司宽谱偏振无关SOA与光纤环形腔技术，可覆盖1260~1360nm内任意波长，波长最小间隔达10pm，具备宽调谐、高功率稳定度、消偏振、低相干等特性，可广泛应用于硅光芯片、滤波器、波分复用器、光放大器等各类光器件测试。
天津见合八方既可对外提供核心光器件（包括各波段宽谱偏振无关SOA，可调激光器、SOA驱动等核心器件）和完整的技术方案支持，也可提供整机成品。
一、方案介绍
见合八方O波段可调光源，基于双SOA光纤环形腔架构设计，在保证宽光谱覆盖的同时，实现了优异的功率稳定性和波长精度。整体光路采用光纤环形腔结构，如图1所示，以两颗偏振无关SOA作为增益介质，配合可调谐滤波器实现波长选择，再通过VOA可调光衰与OPM光功率计构成的闭环回路完成输出功率的精准锁定。
核心光路组成：
增益单元(SOA)：一颗1310nm偏振无关SOA位于环形腔内，用于承担腔内增益功能，补偿滤波器、隔离器以及光纤损耗，并提供增益，以确保激光输出
功率提升单元(SOA)：提升光功率，并通过SOA的饱和特性实现噪声抑制功能。
可调谐滤波器(TF)：作为选频元件，精确控制环形腔的激射波长，实现1260~1360nm连续调谐。
可调光衰减器单元(VOA)：可调光衰配合分光探测器，实时反馈动态调节，确保输出功率稳定可控。
光隔离器(Isolator)与耦合器(Splitter)：保障光路单向传输与功率分配，维持环形腔稳定工作。
光功率监测单元(OPM)：可选单元，可配合光源一起实现各种扫描谱测试，包括透射谱/反射谱/增益谱。
二、核心技术亮点
1.100nm超宽调谐范围
覆盖1260~1360nm完整O波段，波长最小间隔10pm，满足各类光器件的全波段测试需求。无论是波分复用器的通道响应测试，还是硅光芯片的光谱特性表征。
2.双SOA环形腔设计
双SOA光纤环形腔结构，有效提升了输出光功率并抑制了噪声。与传统单SOA方案相比，双SOA架构实现了更高以及更稳定的输出功率。
3.自动恒功率控制
采用VOA和分光探测单元，通过实时闭环控制实现功率精准锁定。
4. 上位机软件智能控制
配套PC端上位机软件，操作界面直观易用，支持单点波长输出与自动扫描两种工作模式。软件内置光功率检测与波长扫描功能，方便后续数据分析与报告生成。
三、光源特性测试结果
为验证产品性能，我们对JHBF-O波段可调激光器进行了全面的性能测试，涵盖功率调谐范围、光谱特性、波长扫描平坦度、长期稳定性等关键指标。
1.功率调谐范围测试
测试结果表明，在1260~1360nm全波段范围内，输出功率均可实现从-30dBm至+9dBm的连续可调，部分波长点最高可达+10dBm，满足各类测试场景的功率需求。
2.光谱测试
在设定输出功率5dBm条件下，我们对全波段多个典型波长点进行了光谱测试。测试结果显示，各波长点3dB带宽均控制在0.06~0.1nm范围内，谱线质量优异，边模抑制比>55dB。
全波段各波长点光谱特性一致，1260nm至1360nm范围内3dB带宽均保持在0.06~0.1nm。
3. 波长扫描测试
测试结果显示，在1280~1340nm核心波段，输出功率平坦度表现优异；全波段范围内功率变化趋势符合预期。
4.10 小时长期功率稳定性测试
10小时连续运行下，输出功率波动控制在±0.02dB以内，展现出优异的长期稳定性，完全满足科研实验和生产线长时间测试的需求。
四、应用场景
O波段作为光通信和光传感的重要波段，在数据中心、5G前传、光纤传感等领域有着广泛应用。一款性能优异的可调光源，是光器件研发、生产和质检环节不可或缺的测试工具。
场景一：光无源器件测试
在波分复用器（WDM）、阵列波导光栅（AWG）、薄膜滤波器（TFF）等无源器件的研发与生产中，需要精确测量器件的插入损耗、波长响应、通道隔离度等关键参数。
传统测试方案往往需要多台设备组合，搭建复杂且成本高昂。此O波段可调光源集成了光源、光功率计于一体，配合自动扫描功能，可快速完成全波段插损测试，大幅提升测试效率。
对于硅光芯片这类集成度高、对测试精度要求严苛的器件，本产品的高波长精度和低相干特性尤为重要，能够准确表征芯片的光谱响应特性。
场景二：光有源器件测试——SOA增益谱测试
在半导体光放大器（SOA）、光探测器（PD）、光调制器等有源器件的测试中，可调光源同样扮演着重要角色。
SOA增益谱测试是SOA器件研发和生产中的核心测试项目。以下测试均以本款O波段可调谐激光器作为输入激励光源，配合我司自研1310nm蝶形封装SOA完成，可提供光源与光放大一体化成套解决方案。
整体来看，SOA在1260~1360nm全O波段均可稳定输出有效增益，1260~1320nm核心波段增益区间可达10~21dB，具备优秀的宽带光放大能力。
对于光探测器的响应度测试，本产品的功率可调和高稳定度特性，能够精确控制入射光功率，确保测试结果的准确性和可重复性。
场景三：镀膜特性分析
光学薄膜的性能直接影响光器件的质量，而镀膜特性的测试分析离不开宽光谱光源。无论是增透膜、高反膜还是滤光膜，都需要在宽波段范围内测量其透射率或反射率。见合八方O波段可调光源配合功率计，可快速扫描镀膜样品的光谱特性，为镀膜工艺优化提供数据支撑。
目前，见合八方还可提供O+C双波段200nm宽调谐光源方案，满足更多波段的测试需求。
天津见合八方光电科技有限公司，是一家专注国产半导体光放大器SOA研发和生产的高科技企业，目前已推出多款半导体光放大器SOA产品(850nm,1060nm,1270nm,1310nm,1550nm,1625nm)以及增益芯片RSOA产品(850nm,1310nm,1550nm)，公司已建立了万级超净间实验室，拥有较为全面的光芯片的生产加工、测试和封装设备，并具有光芯片的混合集成微封装能力。目前公司正在进行NLL/ECL+SOA的混合集成器件、大功率SOA器件的研发工作，并可对外承接各种光电器件测试、封装和加工服务。
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